陕西博微电通科技有限责任公司

半导体高精度自动温度实验系统

BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计，保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保护，并具有多重保护功能，可以对器件在不同温度下的性能进... ...

二极管浪涌测试系统

可用于各类二极管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌电流（IFSM）试验，包括三极管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二极管的浪涌测试。 二极管元件在实际使用中，除了能长期通过额定通态平均电流外... ...

晶闸管便携自动/手动阻断特性测试仪

BW-ZD-8500适用于晶闸管便携自动/手动阻断特性测试仪测试各种晶闸管（KP、KK、KA、KS）及晶闸管模块的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM与各种整流二极管（ZP、ZK）的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等参数。 ...

高精度半导体自动温度实验系统

BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计，保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保护，并具有多重保护功能，可以对器件在不同温度下的性能进... ...

IGBT 模块静态参数综合测试台

BW-CVR1400S IGBT 模块静态参数综合测试台主要针对半导体功率器件的静态参数测试而开发设计。通过DUT适配器的转换，可实现对各种封装形式的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs 等半导体器件的静态电参数测试,适合产线量测以及... ...