陕西博微电通科技有限责任公司

高精度半导体分立器件测试系统

BW-4022A 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进行精确测试,BW-4022A 设备采用大规模 32 位 ARM&MCU 设计， PC 中文操作界面，高压源10... ...

半导体高精度自动温度实验系统

BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计，保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保护，并具有多重保护功能，可以对器件在不同温度下的性能进... ...

二极管浪涌测试系统

可用于各类二极管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌电流（IFSM）试验，包括三极管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二极管的浪涌测试。 二极管元件在实际使用中，除了能长期通过额定通态平均电流外... ...

晶闸管便携自动/手动阻断特性测试仪

BW-ZD-8500适用于晶闸管便携自动/手动阻断特性测试仪测试各种晶闸管（KP、KK、KA、KS）及晶闸管模块的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM与各种整流二极管（ZP、ZK）的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等参数。 ...

车规级功率器件热循环负载试验台

BW-TRL2000车规级功率器件热循环负载试验台是一种二极管热循环负载试验系统,广泛应用于车规级半导体器件高温、高湿、高压、满载等功率循环可靠性间歇寿命测试，指导新品器件性能，指导研发和系统优化。 ...

高精度半导体自动温度实验系统

BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计，保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保护，并具有多重保护功能，可以对器件在不同温度下的性能进... ...

IGBT 模块静态参数综合测试台

BW-CVR1400S IGBT 模块静态参数综合测试台主要针对半导体功率器件的静态参数测试而开发设计。通过DUT适配器的转换，可实现对各种封装形式的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs 等半导体器件的静态电参数测试,适合产线量测以及... ...

IGBT模块动/静态参数综合测试台

BW-VCE2400 IGBT模块动/静态参数综合测试台产品主要应用于电力半导体器件、 组件、 模块(包括lGBT器件、 新型SiC器件、 功率半导体、及功率整流管等)的IGBT模块静态动态参数测试,广泛应用电气自动化设备、电冶、... ...

高精度晶体管直流参数测试系统

BWDT-3022A 型晶体管直流参数测试仪可测试三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、整流二极管、三端肖特基整流器、三端电压稳压器和基准器 TL431,为三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、二极管等提供了 15 种最主要参... ...

高精度半导体光耦测试系统-双功能版

BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压... ...

高精度半导体光耦测试系统

BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010A为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输... ...