陕西博微电通科技有限责任公司

光耦/晶振/压敏电阻/二极管/锂亚电池综合测试系统

BW-4022C半导体综合测试系统是针对于半导体器件开发专用测试的系统，经我公司产品升级与开发，目前亦可以对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种器件进行参数测试，性能、精度、测试范围均满足客户测... ...

高精度半导体分立器件测试系统

BW-4022A 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进行精确测试,BW-4022A 设备采用大规模 32 位 ARM&MCU 设计， PC 中文操作界面，高压源10... ...

高精度晶体管直流参数测试系统

BWDT-3022A 型晶体管直流参数测试仪可测试三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、整流二极管、三端肖特基整流器、三端电压稳压器和基准器 TL431,为三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、二极管等提供了 15 种最主要参... ...

高精度半导体光耦测试系统-双功能版

BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压... ...

高精度半导体光耦测试系统

BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010A为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输... ...